首页> 外文OA文献 >Basic Properties of Metrizable Topological Spaces
【2h】

Basic Properties of Metrizable Topological Spaces

机译:可度量拓扑空间的基本性质

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

We continue Mizar formalization of general topology accordingto the book [11] by Engelking. In the article, we present the final theorem ofSection 4.1. Namely, the paper includes the formalization of theorems on thecorrespondence between the cardinalities of the basis and of some open subcover,and a discreet (closed) subspaces, and the weight of that metrizable topologicalspace. We also define Lindel¨of spaces and state the above theorem in this specialcase. We also introduce the concept of separation among two subsets (see [12]).
机译:根据Engelking的书[11],我们将继续进行一般拓扑的Mizar形式化。在本文中,我们介绍了第4.1节的最终定理。即,本文包括关于基础和一些开放子覆盖的基数与离散(封闭)子空间的基数之间的对应关系的定理形式,以及该可度量拓扑空间的权重。我们还定义Lindel-of空间,并在这种特殊情况下陈述上述定理。我们还介绍了两个子集之间分离的概念(参见[12])。

著录项

  • 作者

    Pąk, Karol;

  • 作者单位
  • 年度 2009
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号